Интерпретация порошковых рентгенограмм
Автор(ы): | Липсон Г., Стипл Г.
21.12.2023
|
Год изд.: | 1972 |
Описание: | Предлагаемая книга представляет собой модернизированное пособие по непрерывно совершенствующимся порошковым методам, которое включает все достижения последних лет, как экспериментальные, так и теоретические. Она рассчитана на рентгеноструктурщиков, использующих в основном порошковые рентгенограммы, а также на студентов, осваивающих порошковые методы рентгеноструктурного анализа. |
Оглавление: |
Обложка книги.
Предисловие редактора перевода [5]Предисловие авторов [9] Глава 1. Кристаллические решетки и симметрия кристаллов [11] §1. Природа кристаллов [11] 1. Кристаллическое состояние [11] 2. Закон рациональных индексов [13] 3. Симметрия [15] 4. Зоны и оси зон [15] 5. Стереографические проекции [17] §2. Симметрия кристаллов [20] 1. Типы симметрии [20] 2. Комбинации элементов симметрии [21] 3. Кристаллические системы [22] 4. Кристаллические решетки [23] 5. Кристаллические классы [28] §3. Симметрия кристаллических структур [33] 1. Плоскости скольжения и винтовые оси [33] 2. Пространственные группы [36] 3. Классы Лауэ [39] Глава 2. Геометрия рентгеновских отражений [41] §1. Дифракция на кристаллах [41] 1. Дифракция от трехмерной решетки [41] 2. Закон Брэгга [44] 3. Порядки отражений [52] §2. Обратная решетка [52] 1. Сущность обратной решетки [52] 2. Разновидности обратной решетки [57] 3. Использование обратной решетки при изучении явления дифракции [61] Глава 3. Рентгеновские лучи [63] §1. Природа, рентгеновского излучения [63] 1. Введение [63] 2. Белое излучение [63] 3. Характеристическое излучение [65] §2. Преломление рентгеновских лучей [69] §3. Длины волн рентгеновских лучей [71] 1. Единицы измерения [71] 2. Точность измерения [75] §4. Поглощение рентгеновских лучей [75] 1. Коэффициенты поглощения [75] 2. Края поглощения и флуоресцентное излучение [77] 3. Когерентное и некогерентное рассеяния [79] 4. Выбор излучения. Приемы ослабления фона [79] §5. Отраженное кристаллом излучение [81] 1. Введение [81] 2. Изогнутые кристаллические монохроматоры [85] §6. Получение рентгеновских лучей [88] 1. Типы рентгеновских трубок [88] 2. Газовые трубки [88] 3. Трубки с горячим катодом [88] 4. Трубки с вращающимся анодом [91] 5. Острофокусные трубки [91] 6. Электролитическое платинирование анодов [92] 7. Меры защиты [93] Глава 4. Регистрация порошковых рентгенограмм и их измерение [94] §1. Введение [94] §2. Приготовление образцов [99] §3. Измерение брэгговских углов [100] 1. Геометрические характеристики камер [100] 2. Измерение порошковых рентгенограмм [104] 3. Поправка на поглощение [105] §4. Цилиндрические порошковые камеры [107] 1. Диаметр камеры [107] §5. Рентгеновский дифрактометр для порошковых препаратов [109] 1. Регистрация дифрагированного излучения [109] 2. Геометрическая характеристика дифрактометра 109. 3. Практические указания [111] §6. Высокотемпературные и низкотемпературные камеры [113] 1. Высокотемпературные камеры [113] 2. Низкотемпературные камеры [114] §7. Камеры высокого давления [119] §8. Камеры других типов [119] 1. Фокусирующие камеры [119] 2. Камеры для массивных образцов [124] 3. Микролучевые камеры [126] 4. Факторы, определяющие выбор камеры [126] §9. Дифракция нейтронов [128] Глава 5. Интерпретация порошковых рентгенограмм [130] §1. Введение [130] §2. Расчет рентгенограмм в случае известной ячейки [131] 1. Кубическая система [131] 2. Тетрагональная, гексагональная и тригональная системы [132] 3. Ромбическая система [134] 4. Моноклинная и триклинная системы [135] §3. Расчет рентгенограмм в случае неизвестной ячейки [138] 1. Кубическая система [138] 2. Тетрагональная система [141] 3. Гексагональная и тригональная системы [144] 4. Ромбическая система [145] 5. Моноклинная система [150] 6. Триклинная система [152] 7. Преобразование осей методом Ито [156] 8. Обобщение метода Ито для триклинной системы [158] 9. Индицирование рентгенограмм триклинных кристаллов методом Сольдоса [161] §4. Графические методы интерпретации [164] 1. Основные принципы графических методов [164] 2. Метод Бьерстрема [165] 3. Сетки Хэлла - Дэви [169] §5. Другие методы интерпретации [173] §6. Сравнение аналитических и графических методов [175] §7. Проверка правильности результата [177] Глава 6. Точное определение размеров элементарной ячейки [179] §1. Введение [179] §2. Исключение систематических ошибок в порошковых рентгенограммах [180] 1. Несовпадение оси камеры и оси вращения образца [180] 2. Поглощение и расходимость пучка рентгеновских лучей [181] 3. Конечная высота образца [182] 4. Усадка пленки [182] 5. Преломление [184] 6. Пределы точности [184] §3. Приемы работы с порошковыми рентгенограммами кубических и одноосных образцов [186] 1. Основные положения метода для кубических образцов [186] 2. Приемы расчета [187] 3. Выбор излучения [187] 4. Практический пример [188] 5. Метод для одноосных образцов [190] §4. Аналитический метод Когена [191] 1. Введение [191] 2. Приемы устранения систематических ошибок [192] 3. Случайные ошибки. Их учет [193] 4. Практический пример [194] §5. Статистический метод [196] §6. Применение цилиндрической фокусирующей камеры [196] 1. Введение [196] 2. Устранение ошибок [198] §7. Камера обратной съемки с плоской кассетой [200] §8. Приемы работы на дифрактометре со счетчиком [201] 1. Измерение брэгговского угла [201] 2. Источники ошибок [202] 3. Ошибки в положении максимума пика [203] 4. Ошибки, связанные с положением центра тяжести дифракционного профиля [204] §9. Приложения [206] 1. Определение коэффициентов теплового расширения [206] 2. Определение фазовых границ на диаграммах равновесия [206] 3. Определение плотности и молекулярного веса [207] 4. Измерение внутренних напряжений [208] 5. Определение кристаллических структур [209] Глава 7. Измерение интенсивностей рентгеновских рефлексов и их вычисление [211] §1. Введение [211] §2. Измерение интенсивностей фотографическими методами [211] 1. Действие рентгеновского излучения на фотопленку [211] 2. Типы фотометров [212] 3. Основные условия измерения [215] 4. Приложение к порошковым рентгенограммам [210] §3. Измерение интенсивностей при помощи дифрактометров [218] 1. Регистрация рентгеновских квантов при помощи счетчиков [218] 2. Счетчик Гейгера и пропорциональный счетчик [218] 3. Сцинтилляционный счетчик [222] 4. Интегральная интенсивность [223] §4. Вычисление интенсивностей рентгеновских рефлексов [224] 1. Введение [224] 2. Формула для относительной интенсивности [225] 3. Угловой фактор [225] 4. Фактор поглощения [226] 5. Экстинкция [227] 6. Фактор повторяемости [230] §5. Структурный фактор [236] 1. Определение структурного фактора и структурной амплитуды [236] 2. Атомный фактор [237] 3. Температурный фактор [240] 4. Геометрический структурный фактор [240] 5. Отсутствие рефлексов (погасание), обусловленное типом решетки [243] §6. Приложения [246] 1. Определение - расшифровка структуры [246] 2. Изучение сверхструктурных образований в сплавах [246] 3. Определение пропорций составных частей смеси [248] Глава 8. Определение [расшифровка) кристаллических структур [249] §1. Сравнение монокристального и порошкового методом [249] §2. Предварительные процедуры [250] 1. Нахождение элементарной ячейки и пространственной группы [250] 2. Масштабный коэффициент и температурный фактор [253] 3. Нахождение приближенной структуры [257] §3. Некоторые примеры определения структуры [259] 1. Общий критический обзор интенсивностей [259] 2. Установление пространственной группы [261] 3. Точное определение интенсивностей [262] 4. Обнаружение псевдосимметрии [263] §4. Уточнение кристаллических структур [265] 1. Введение [265] 2. Уточнение параметров методом наименьших квадратов [267] 3. Уточнение методом наиболее крутого спуска [272] 4. Уточнение методом минимизации фактора расходимости [273] Глава 9. Анализ уширения порошковых линий [275] §1. Введение [275] §2. Пятнистые порошковые рентгенограммы [275] 1. Причины возникновения пятнистости [275] 2. Определение размера зерна по дискретным пятнам [276] §3. Уширение [размытие) порошковых линий [277] 1. Определение ширины порошковых линий [277] 2. Причины уширения порошковых линий [278] §4. Измерение уширения [282] 1. Введение [282] 2. Распределение интенсивности по уширенной порошковой линии [282] 3. Метод Стокса [283] 4. Измерение ширины линий [288] §5. Приложения [294] 1. Кажущиеся размеры кристалла [294] 2. Малоугловое рассеяние [294] 3. Структурные ошибки [295] 4. Деформированные кристаллы [296] Глава 10. Идентификация кристаллических материалов [297] §1. Введение [297] §2. Общие методы идентификации [298] 1. Описания порошковых рентгенограмм [298] 2. Картотека порошковых дифракционных данных [299] 3. Некоторые практические трудности [304] §3. Идентификация в условиях ограниченного числа возможностей [305] 1. Огнеупорные материалы [305] 2. Системы сплавов [306] 3. Минералы [308] Задачи [310] Решения задач [317] Приложение 1 [335] Приложение 2 [339] Приложение 3 [340] Таблицы [342] Литература [366] Именной указатель [371] Предметный указатель [374] |
Формат: | djvu + ocr |
Размер: | 37620805 байт |
Язык: | РУС |
Рейтинг: | 215 |
Открыть: | Ссылка (RU) |