Интерферометры. Основы инженерной теории, применение
| Автор(ы): | Коломийцов Ю. В.
21.05.2010
|
| Год изд.: | 1976 |
| Описание: | В книге рассмотрены вопросы инженерной теории интерферометров, связанные главным образом с исследованием причин, понижающих контрастность интерференционных полос и искажающих их форму. Обоснованы требования к оптическим и механическим узлам интерферометров разных типов. Описаны интерферометры для измерения длин, для контроля формы и микрогеометрии поверхностей, а также для исследования оптических систем, измерения показателей преломления веществ и аэродинамических исследований. Рассмотрены возможные способы повышения чувствительности интерферометров. Книга предназначена для инженерно-технических работников, занятых разработкой и эксплуатацией интерферометров; она может быть полезна также преподавателям и студентам приборостроительных вузов. |
| Оглавление: |
Обложка книги.
Глава I. Общие сведения об интерференции света [5] § 1. Основные понятия и величины [5] § 2. Когерентность [8] § 3. Интерференция от двух когерентных источников света [9] Ширина и форма интерференционных полос [10] Разделение световой волны по фронту [12] Разделение световой волны по амплитуде [13] Глава II. Интерференция в пластинах [15] § 4. Интерференция в плоскопараллельной пластине [15] Вычисление разности хода лучей в пластине [15] Получение колец равного наклона [16] Зависимость контрастности полос от клиновидности пластины [19] § 5. Интерференция в клиновидной пластине [20] Ход лучей в клиновидной пластине [20] Контрастность полос равной толщины при конечных размерах источника света [21] Плоскость локализации [22] Наблюдение картины вне плоскости локализации [26] § 6. Интерференция в пластине, ограниченной сферическими поверхностями [28] Получение колец Ньютона [28] Измерение радиусов кривизны поверхностей [29] § 7. Многолучевая интерференция в пластинах [30] Интенсивность проходящего света [31] Интенсивность отраженного света [31] § 8. Интерференция в двух пластинах [33] Получение полос равного наклона в белом свете [34] Измерение разности толщин пластин [36] Глава III. Особенности интерференции в белом свете. Компенсаторы [37] § 9. Общие сведения [37] § 10. Неравенство толщин стекла на пути интерферирующих лучей [39] Компенсация стекла воздухом [39] Получение ахроматической полосы [41] Требования к плоскопараллельности оптических деталей [42] § 11. Компенсация неравенства толщин стекла введением стекла другого сорта [43] Получение ахроматической полосы нулевого порядка [44] Получение апохроматической полосы [45] § 12. Измерительные и котировочные стеклянные компенсаторы [46] Компенсаторы с поворотными пластинами [46] Двухклиновой компенсатор [47] Ахроматический компенсатор [49] Апохроматический компенсатор [51] Глава IV. Оптические схемы и особенности основных типов интерферометров [52] § 13. Интерферометры, оптические схемы которых могут быть сведены к одной воздушной пластине [52] Интерферометр Физо [52] Интерферометр Майкельсона [52] Эталон Фабри и Перо [58] § 14. Интерферометры с двумя пластинами [61] Интерферометр Жамена [61] Интерферометр Цендера—Маха [65] § 15. Интерферометры френелевского типа [68] Интерферометр Релея [68] Звездный интерферометр Майкельсона [72] Звездный интерферометр Линника [75] § 16. Голографические интерферометры [75] Глава V. Причины понижения контрастности интерференционной картины [81] § 17. Уточнение определения контрастности [81] Контрастность по полю и в данной точке поля [81] Измеренное и истинное значения контрастности [82] § 18. Немонохроматичность источника света [84] Две узкие спектральные линии [84] Одна широкая спектральная линия [84] § 19. Неравенство интенсивностей интерферирующих пучков лучей и наличие рассеянного света [87] § 20. Различие состояний поляризации интерферирующих пучков лучей [89] Интерференция естественного луча с лучом линейно-поляризованным [89] Интерференция двух линейно-поляризованных лучей [90] § 21. Зависимость контрастности от размеров источника света [93] Аналогия между клиновидной пластиной и зеркалами Френеля [94] Сдвиг полос в случае толстой клиновидной пластины [95] § 22. Непараллельность интерферирующих пучков лучей [98] § 23. Деформации волновых поверхностей [102] Волна W2 сферической формы [103] Волна W2 цилиндрической формы [103] Волна W2 с местными отступлениями от плоскости [105] § 24. Неправильная установка диафрагм [107] Глава VI. Требования к оптическим и механическим узлам интерферометров [114] § 25. Дифференциация требований к узлам интерферометров разных типов [114] Принцип устройства интерферометра [114] Назначение интерферометра [114] Расстояние от оптического узла интерферометра до поля интерференции [116] Основные и вспомогательные оптические детали [117] § 26. Требования к качеству изготовления основных оптических деталей [117] Поверхности зеркал и пластин [117] Толщина и клиновидность оптических деталей [123] Стекло оптических деталей [125] § 27. Требования к точности установки основных оптических деталей [126] Смещение деталей вдоль оптической оси [126] Смещение деталей в направлениях, перпендикулярных к оптической оси [127] Поворот зеркал интерферометра [129] § 28. Требования к коллиматору и к приемной части интерферометра [130] Роль расфокусировки коллиматора [130] Роль дисторсии приемной части интерферометра [132] § 29. Требования к механическим узлам [134] Жесткость конструкции [135] Изменения температуры [135] Регулирующие устройства [137] § 30. Юстировка интерферметров и работа с ними [140] Этапы юстировки [140] Способы измерения смещения и искривления полос [143] Глава VII. Интерферометры для измерения длин [146] § 31. Общие сведения [146] § 32. Уникальные интерферометры для измерения больших штриховых и концевых мер длины [148] Эталонная интерференционная установка ВНИИМ [148] Универсальный интерферометр ВНИИМ [150] § 33. Интерферометры для абсолютных измерений длины концевых мер [153] Интерферометр Кестерса [153] Интерферометр NPL [157] Интерферометр фирмы «Xильгер—Ватте» [158] § 34. Интерферометры для относительных измерений длины концевых мер [160] Технический интерференционный метод [160] Контактные интерферометры [162] Двойной контактный интерферометр [163] Интерферометр Карташева [163] Интерферометр ИКМ-10 [164] § 35. Интерферометры для измерения наружных размеров деталей [167] Многолучевой интерференционный микроскоп МИИ-11 [167] Интерференционный способ измерения диаметров шариков и цилиндров с помощью стеклянных пластин [169] Интерферометр ИЗК-57 для измерения диаметров шариков и цилиндров [170] § 36. Интерферометры для измерения внутренних размеров деталей [173] Интерференционный метод измерения диаметров отверстий в прозрачных кольцах с помощью аттестованных пробок [174] Интерференционный нутромер для бесконтактных относительных измерений диаметров отверстий от 8 до 30 мм [175] Интерференционный нутромер ИГ-88 для относительных измерении диаметров отверстий от 5 до 12 мм [178] Абсолютные методы измерений [182] § 37. Интерференционные индикаторы для измерения малых перемещений [184] Бесконтактный интерференционный индикатор удвоенной чувствительности [185] Двойной интерферометр [188] § 38. Лазерные интерферометры для измерения больших перемещений [189] Принципиальные схемы [189] Интерферометр фирмы «Браун Бовери» [191] Интерферометр ИПЛ [192] Интерферометр фирмы «Катлер— Хаммер» [193] Интерферометр фирмы «Хьюлет—Паккард» [193] Глава VIII. Интерферометры для контроля формы и микрогеометрии поверхностей [195] § 39. Интерферометры для контроля плоскостей [195] Метод пробного стекла [195] Применение интерферометров типа Физо [197] Интерферометр ИКП-100 удвоенной чувствительности [198] Голографические интерферометры [199] Фотоэлектрические способы [200] Интерферометры для контроля прямолинейности профиля больших поверхностей [201] § 40. Интерферометры для контроля сферических поверхностей [204] Сферические пробные стекла [204] Интерферометры для бесконтактного контроля поверхностей среднего диаметра [205] Неравноплечий лазерный интерферометр для контроля больших вогнутых поверхностей [210] Интерферометры для контроля сферических поверхностей малого диаметра [212] § 41. Интерференционные методы и приборы для контроля поверхностей сложной формы [215] Применение пробных стекол и интерферометров для контроля сферических поверхностей [215] Методы контроля поверхностей произвольной формы [216] Контроль поверхностей второго порядка [218] Контроль цилиндрических поверхностей [220] Контроль торических поверхностей [223] § 42. Микроинтерферометры [225] Микроинтерферометр Линника [225] Контрастность интерференционной картины [228] Условия получения прямых полос [229] Роль апертуры микрообъективов [231] Однообъективный микроинтерферометр Захарьевского [233] Другие методы контроля шероховатости [234] § 43. Микропрофилометры [235] Микропрофилометр с цилиндрической линзой [236] Расчет фокусного расстояния и положения цилиндрической линзы [237] Допустимая ширина щели [238] Влияние неточностей изготовления и установки оптических деталей на контрастность и форму полос [239] Микропрофилометр для контроля шероховатости внутренних поверхностей деталей [240] Микропрофилометр со спектральной насадкой [243] Микропрофилометр пониженной чувствительности [244] Глава IX. Интерферометры прочих назначений [245] § 44. Интерферометры для исследования оптических систем [245] Интерферометр Тваймана [245] Метод Линника [247] Метод Цернике [248] § 45. Интерферометры для измерения показателя преломления вещества [249] Интерферометры по схеме Релея [249] Интерферометры по схеме Жамена [251] Измерение показателей преломления твердых тел [253] § 46. Интерферометры для исследования неоднородностей в прозрачных объектах [253] Интерферометр Майкельсона—Тваймана [254] Интерферометр Цендера—Маха [254] Интерферометры сдвига [255] Голографический интерферометр [257] Интерферометр последовательного типа [259] § 47. Интерференционные микроскопы для исследования прозрачных микрообъектов [261] Интерференционный биологический микроскоп МБИН-4 [261] Двухфокусный интерференционный микроскоп [262] Интерференционный микроскоп с обратно-круговым ходом [264] Глава X. Способы повышения чувствительности интерференционных методов измерения [266] § 48. Трех- и четырехлучевые интерферометры [266] Схема трехлучевого интерферометра типа Релея [266] Трехлучевой интерферометр Хунцингера [268] Четырехлучевые интерферометры Харихарана и Сена [270] § 49. Визуальные двухлучевые интерферометры повышенной чувствительности [273] Двухлучевой интерферометр с двойным прохождением лучей [273] Схема Рентча [275] Зеркальные устройства с многократным отражением [275] § 50. Фотоэлектрические методы измерения изменений разности хода [277] Модуляционный метод измерения малых разностей хода [277] Методы наведения на ахроматическую полосу [280] Список литературы [285] |
| Формат: | djvu |
| Размер: | 5026285 байт |
| Язык: | РУС |
| Рейтинг: |
209
|
| Открыть: | Ссылка (RU) |