Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Кн. 1
Автор(ы): | Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д. и др.
06.10.2007
|
Год изд.: | 1984 |
Описание: | В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ. |
Оглавление: |
Обложка книги.
Предисловие редактора перевода [5]Предисловие [7] Глава 1. ВВЕДЕНИЕ [9] 1.1. Содержание книги [10] Глава 2. ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА [12] 2.1. Зависимость диаметра электронного зонда от тока электронного зонда [12] 2.2. Измерение параметров микроскопа [15] 2.3. Растровая электронная микроскопия высокого разрешения [18] Глава 3. ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ ЭЛЕКТРОННОГО ПУЧКА С ОБРАЗЦОМ [21] 3.1. Введение [21] 3.2. Рассеяние [21] 3.3. Область взаимодействия [28] 3.4. Отраженные электроны [44] 3.5. Процессы, обусловленные неупругим рассеянием [57] 3.6. Заключение [95] Глава 4. ФОРМИРОВАНИЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ [98] 4.1. Введение [98] 4.2. Основы процесса формирования изображения в РЭМ [98] 4.3. Стереомикроскопия [118] 4.4. Детекторы [123] 4.5. Роли образца и детектора в формировании контраста изображения [134] 4.6. Качество изображения [152] 4.7. Обработка сигнала для отображения информации, содержащейся в контрасте изображения [164] Глава 5. РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ: СПЕКТРОМЕТРЫ С ДИСПЕРСИЕЙ ПО ДЛИНАМ ВОЛН И ПО ЭНЕРГИИ [190] 5.1. Введение [190] 5.2. Спектрометр с дисперсией по длинам волн (кристалл-дифракционный спектрометр) [190] 5.3. Рентгеновский спектрометр с дисперсией по энергии [210] 5.4. Сравнение характеристик спектрометров с дисперсией по длинам волн и дисперсией по энергии [256] 6. КАЧЕСТВЕННЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ [269] 6.1. Введение [269] 6.2. Качественный анализ при помощи спектрометра с дисперсией по энергии [272] 6.3. Качественный анализ с помощью кристалл-дифракционного спектрометра [286] 6.4. Получение изображения в рентгеновском излучении при сканировании [296] |
Формат: | djvu |
Размер: | 7081888 байт |
Язык: | РУС |
Рейтинг: | 154 |
Открыть: | Ссылка (RU) |